與市場上其他便攜式X射線熒光設(shè)備相比，F(xiàn)ISCHERSCOPE XAN500可以非常精確地確定鍍層厚度。它的三點支撐設(shè)計使其易于正確放置，并在整個測量過程中保持穩(wěn)定。高質(zhì)量的硅漂移檢測器（SDD）確保了分析合金層（如鋅鎳合金）所需的精度。
但是，XAN 500不僅僅是一個用于大型零件的測量系統(tǒng)。借助可選的測量箱，只需幾個簡單的步驟即可將其轉(zhuǎn)換為臺式儀器。 這樣您就可以快速、輕松地檢查小零件，如螺母和螺栓。
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通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進(jìn)行精確的鍍層厚度測量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)
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重量1.9 kg
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一次電池充電可持續(xù)運行6個小時
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測量點：3毫米Ø
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高分辨率硅漂移檢測器
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用于戶外的IP54等級
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用作臺式設(shè)備的可選測量箱；
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使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計
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測試大型樣件，裝配測量箱后也可以測試小樣件
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一次測試同時測定鍍層的厚度和成分（例如，F(xiàn)e上的ZnNi合金）
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未知合金的無標(biāo)準(zhǔn)片測量
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大型鍍層零件（例如機器部件和外殼）的測量
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電鍍層的測試
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電鍍液金屬含量的分析
